Equipamiento: técnicas de caracterización
El IMM cuenta con las siguientes técnicas para la caracterización de nanoestructuras y nanodispositivos:
- Caracterización estructural: AFM, RX
- Caracterización eléctrica: Efecto Hall, I-V, C-V
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Caracterización óptica:
— Fotoluminiscencia (PL) y µPL confocal a baja temperatura (370-2300 nm, 4.2-300 K)
— PL y µPL confocal resuelta en el tiempo <100 ps (400-1800 nm, 4.2-300 K)
— PL y µPL confocal en alto campo magnético hasta 9 Tesla (370-2300 nm, 4.2-300 K)
— Espectroscopía de correlación de fotones individuales (interferometría HBT)
— Elipsometría espectral
— Microscopía de barrido en campo cercano (SNOM)
— Espectroscopía de modulación y absorción -
Caracterización magneto-óptica:
— Espectroscopía magneto-óptica en configuraciones polar y transversal
— Ciclos de histéresis en configuraciones polar y transversal
— Torque magneto-óptico - Interferometría plasmónica
- Caracterización magneto-plasmónica en configuración Kretschmann
- Microscopía de fuerzas magnéticas (MFM)
- Caracterización de NEMS y MEMS
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