Patentes

System and method for detecting the displacement of a plurality of micro- and nanomechanical elements, such as microcantilevers.
Inventores: Javier Tamayo, Mar Álvarez and Laura M. Lechuga
Fecha de prioridad: 2004
Propietarios:  CSIC
Número de patente:  US20070962027. EP20040381004. WO2005EP02356
Licenciada a: MecWins S.L.

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