Patentes

Método para el análisis del índice de refracción de un medio dieléctrico adyacente a un medio plasmónico y dispositivo correspondiente
Inventores: B. Sepúlveda, D. Regatos, G. Armelles, L. M. Lechuga, D. Fariña
Fecha de prioridad: 2011
Propietarios: CSIC, CIBER-BBN
Número de patente: PCT/ES2011/070085

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